Resultats de la cerca - Padilla, J. Moises

  • Mostrar 1 - 1 resultats de 1
Refinar resultats
  1. 1
    Imatge de la portada

    Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / per Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

    Publicat 2014
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Electrònic eBook

    Afegir a favorits
    Guardat en:

Eines de cerca: