ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.

-д хадгалсан:
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Байгууллагын зохиогчид: International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Формат: Цахим Бага хурлын үйл явц Цахим ном
Хэл сонгох:English
Хэвлэсэн: Materials Park, OH : ASM International, c2000.
Нөхцлүүд:
Онлайн хандалт:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Шошгууд: Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!