ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
সংস্থা লেখক: International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক কনফারেন্স প্রসিডিং বৈদ্যুতিন গ্রন্থ
ভাষা:English
প্রকাশিত: Materials Park, OH : ASM International, c2000.
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!